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新しいマイクロナノレーザ粒度計
ベックマンクルトLS 13 320シリーズマイクロナノレーザ粒度分析器は粒子光散乱原理を応用し、光学理論に基づいて粒子粒度分布を推定し、主に粉体または各種材料の粒子粒度分析に適用し、そのZ大特徴は粒度分析のダイナミック範囲が広く、分解能力が同業界のZ高であること、操作が簡便で迅速で、自動化の程度が高
製品の詳細

ベックマンナノメータLS 13 320シリーズ


ベックマンクルトLS 13 320シリーズレーザ粒度計粒子光散乱原理を応用し、光学理論に基づいて粒子粒度分布を推定し、主に粉体または各種材料の粒子粒度分析に適用する。そのzuiの大きな特徴は粒度分析のダイナミックレンジが広いこと、分別能力は同業界でzuiが高い、操作が簡単で迅速、自動化の度合いが高い。LS 13 320シリーズレーザー粒度計は多種のサンプル分散システムを用意して選択可能であり、乾式法または湿式法システムを選択してサンプルを分析することができ、新世代の高解像度ナノ、ミクロン粒度分析器であり、独立した高解像度ナノ分析器として使用でき、ナノサイズを分析し、下限は17ナノメートルまでである。データは、ふるい分け法、沈降法などの他の測定法データと交換して対照することができる。LS 13 320シリーズレーザー粒度計は品質制御実験室、品質制御部門及びその他の粒度分析分野に広く応用できる。

クルトレーザー粒度計LS 13 320シリーズの主な特徴:


-ISO 13320技術基準に準拠

-FDAの21 CFR Part 11準拠

-ナノ分析機能とミクロン分析機能が1つになり、機能が強い、独立した高分解能ナノ粒子サイズ分析器として使用でき、下限深度を17ナノメートルまで測定する。

-検出器の数はzuiが多く、最大132個の独立した物理位置検出器、最大124個のリアルデータチャネルに対応し、少しも情報が漏れないことを確保する。

-並列式信号収集と伝送により、信号が高信号対雑音比、時差、高フラックスを維持することを確保する。

-次世代固体レーザー光源、7万時間以上の電源投入寿命。

-PIDS特許技術は*の高解像度ナノ粒子サイズ分析を提供し、業界のハイエンド機器の地位を維持する。

・多波長及び偏光解析技術により、広いダイナミックレンジにおける粒度分布の解析精度が高度に保証される。

・物理的位置を固定する2レンズフォーカス特許技術は、収集時差がなく、正確に小粒子情報を収集する。

-多種の自動化サンプル分散システム、「ドック式」切替システムと合わせて、数秒で切替を完了でき、効率的で便利である。

-5つの壁付き自動噴射ノズルにより、サンプル槽のクリーニングに残留がないことを確認します。

-4レベル自動液面制御システムは、サンプルタンクが常に正確な水位を維持することを保証する。

-球形サンプル槽の底部の設計、タービン遠心ポンプと下吸式サンプリング方式を配合し、サンプル槽に残留死角がなく、サンプリング偏差がなく、サンプル粒子の代表性を確保する。

-水源とろ過システムを直接接続し、制御可能な圧力バルブによって液体吸引排出を自動的に制御し、完全に自動化し、作業環境を清潔で汚染のないように維持する。

-数十種類のレポートデータとレポート形式を提供する強力な分析ソフトウェアで、レポートと印刷フォーマットを独自に設計できます。

-全自動演算分析ソフトウェアで、「ピーク」モードを予選する必要はなく、客観的な*レポートを提供します。

-強力なリファレンスデータベースと同時に、*を備えた「Zero-Time」インスタント光学モデルシステムは、1秒で新しい光学モデルを構築し、客観的で正確な分析レポートを提供します。




クルトレーザー粒度計LS 13 320シリーズ技術パラメータ:


-粒径範囲:17ナノメートル-2000ミクロン
  −主光路レーザ光源:光ファイバ接続固体レーザ、出力:5 mW
  -検出器:132個の独立物理角度検出器
  -リアル分析チャネル:124
  −多波長測定:450 nm、600 nm、780 nm及び900 nm
  -光学理論モデル:全過程Mie理論、Fraunhofer理論
-精度誤差:/-0.5%未満
-再現性誤差:/-0.5%未満
  -zui大検出角度:1500
 

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